顕微鏡の世界

走査型電子顕微鏡（SEM）
走査型電子顕微鏡（SEM）は試料の表面を電子線を用いて拡大観察する装置で、
光学顕微鏡では観察不可能な微小な表面構造を鮮明に観察することができます。
走査型電子顕微鏡の大きな特徴のひとつとして、焦点深度の深い像を得ることができます。

※　写真中に倍率が表示されていますが、倍率はディスプレイの設定によって変わってしまいますので御注意ください。

クサスゲ果胞（乾燥標本） 1999.05.28 奈良県室生ダム
クサスゲ果実（乾燥標本） 1999.05.28 奈良県室生ダム

モエギスゲ雄花序（乾燥標本）　1999.05.07 千葉県東金市
モエギスゲ雄花鱗片（乾燥標本）　1999.05.07 千葉県東金市
　モエギスゲ雄花鱗片辺縁部の様子(200倍)　1999.05.07 千葉県東金市
　モエギスゲ雄花鱗片辺縁部の様子(1000倍) 　1999.05.07 千葉県東金市

実体顕微鏡
実体顕微鏡での撮影は被写界深度が大きな問題となります。
被写体が立体的であれば、被写体全体にピントを合わせることが難しくなります。
ここでは画像合成ソフトであるCombine ZMを使用して画像を合成しています。

シカクイ果実（乾燥標本）　2000.07.31 茨城県行方市
　シカクイ果実（刺針状花被片を除去したもの）　2000.07.31 茨城県行方市

メアゼテンツキ果実（乾燥標本） 2004.10.08 東京都武蔵村山市

アオスゲ果胞（乾燥標本） 1995.05.14 東京都稲城市
アオスゲ果実（乾燥標本） 1995.05.14 東京都稲城市

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